正式發布！微束分析四項國家標準
以下為您分別簡要解讀這四項最新推薦性國家標準—— 微束分析 電子探針顯微分析（EPMA） 術語》 (標準號:GB/T 21636-2021) 本標準為修訂采標標準，采標自ISO 23833:2013。 電子探針顯微分析（EPMA）是一門綜合性的技術，涉及物理、化學、電子學等廣泛術語。本標準只限于定義電子探針顯微分析（EPMA）、能譜儀（EDS）顯微分析標準化實踐中使用和直接有關的術語，包括電子探針顯微分析用一般術語定義；描述電子探針顯微分析儀器的術語定義；用于電子探針顯微分析方法的術語定義。本標準的大部術語也適合于能譜儀顯微分析。 第一版EPMA術語2008年發布以來，對EPMA、EDS顯微分析相關術語的規范起到重要作用。為了增加新技術發展提出的新術語和對第一版相關術語進行補充和修改，ISO于2013年發布了EPMA術語修訂版（第二版）。本標準修訂是根據第二版進行等同采標。 本標準主要起草單位：中國科學院上海硅酸鹽研究所 。 主要起草人：曾毅 、李香庭 。 《微束分析 用于波譜和能譜分析的粉末試樣制備方法》（標準號:GB/T 41074-2021） 本標準為制定采標標準，采標自ISO 20720:2018。 本標準規定了使用安裝在EPMA或SEM上的能量色散譜儀(EDS)或波長色散光譜儀(WDS)分析粉末中的顆粒時的樣品制備方法。根據分析目的和粒度，對粉末顆粒分析的制備方法進行了分類。本標準適用于直徑大于100nm且直徑小于100μm的無機物顆粒。它只適用于“普通”粉末的分析，這意味著它不包括特殊應用的程序，如法醫或痕量分析。 本標準主要起草單位：中國地質科學院礦產資源研究所 、核工業北京地質研究院 、中國科學院地質與地球物理研究所 。 主要起草人：陳振宇 、范光 、毛騫 。 《微束分析 薄晶體厚度的會聚束電子衍射測定方法》 (標準號:GB/T 20724-2021) 本標準為GB/T 20724-2006的修訂標準。 本標準規定了用透射/掃描透射電子顯微鏡測定薄晶體試樣厚度的會聚束電子衍射（CBED）方法。適用于對線度從幾納米至幾百微米、厚度在幾十至幾百納米范圍的薄晶體厚度測定。主要內容為：CBED技術測量薄晶體厚度的方法概述、適用的材料試樣、實驗方法與基本步驟、數據的分析計算以及不確定度等，可供廣大分析人員參照執行。 目前我國在科研院所、高等院校、大型企業和各地分析測試中心等實驗室已裝備了大量透射電鏡/掃描透射電鏡（TEM/STEM），開展相關應用。對應的國標GB/T20724- 2006已經發布多年，在此期間，材料研究水平以及儀器設備均有極大進步。因此，對GB/T20724- 2006進行修訂具有現實的重要意義。 本標準主要起草單位：北京科技大學 、中國航發北京航空材料研究院 。 主要起草人：柳得櫓 、婁艷芝 《微束分析 電子背散射衍射 鋼中奧氏體的定量分析》 (標準號:GB/T 41076-2021) 本標準為制定標準。 本標準規定了采用電子背散射衍射（EBSD）測量鋼中奧氏體含量和形態的方法。本標準主要技術內容包括術語和定義、原理、設備、取樣、試樣制備、校準與核查、測量、數據分析及檢測報告等。 奧氏體存在于很多鋼中，如低碳鋼、中碳鋼、低合金鋼等。近幾年奧氏體尤其在TRIP鋼、QP鋼、TWIP鋼等低合金高強汽車板里應用很多。奧氏體在變形過程中會部分發生馬氏體相變，其含量及轉變量會直接影響到材料強度和延伸率的提高程度。轉變量主要由奧氏體形態決定。因此，奧氏體的含量和形態直接影響了這些高強汽車板的服役性能。 國內目前主要使用YB/T5128-2006《鋼中殘余奧氏體定量測定 X射線衍射儀法》測量奧氏體含量。該標準在使用過程中存在如下問題：1)適用于無取向的鋼;2)對形態無法表征。 背散射電子衍射法（EBSD）在測量奧氏體含量時不受取向的影響，并且可以對奧氏體的形態進行表征，其測量結果對高強汽車板的研發有著很重要的指導意義，同時也可以作為該類產品的一項重要指標來監督產品質量。 本標準主要起草單位：首鋼集團有限公司 、牛津儀器科技(上海)有限公司 、鋼鐵研究總院 。 主要起草人：孟楊 、鞠新華 、崔桂彬 、楊小鵬 、李繼康 、張玉成 、陳鷹 、尹立新 、任群 、嚴春蓮 、其其格 、賈惠平 。
